Mastereksamen: Kim-Eigard Hines

Centralized coincidence trigger processing for COMPET using both a synchronous and an asynchronous approach

Tid og sted: , FØ394
  • Masterprogram: Elektronikk og datateknologi
  • Studieretning: Instrumentering og måleteknikk
  • Sensor: Eivind Myrlid, FFI
  • Veileder: Torfinn Lindem
  • Veileder: Erlend Bolle
  • Veileder: Michael Rissi
  • Representant for gruppen:Helge Balk

Etter presentasjonen fortsetter eksamineringen på rom FV139.

Publisert 29. feb. 2012 15:12 - Sist endret 22. okt. 2014 11:39
Del på e-post