Mastereksamen: Thomas Nesjø

Development and Verification of a High-Resolution X-ray Spectroscopy Line Scanner

Tid og sted: , Rom Ø397, Fysikkbygningen
  • Masterprogram: Elektronikk, informatikk og teknologi
  • Studieretning: Mikroelektronikk og sensorteknologi
  • Ekstern sensor: Johan Alme, Universitetet i Bergen
  • Intern sensor: Eirik Malinen
  • Veiledere: Anja Kohfeldt og Codin Gheorghe (IDEAS) 

 

Publisert 2. juni 2023 09:26 - Sist endret 2. juni 2023 09:26
Del på e-post